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Aperçu gratuit du livre Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops SSPR 2002 and SPR 2002, Windsor, Ontario, Canada, August 6-9, 2002. Proceedings

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops SSPR 2002 and SPR 2002, Windsor, Ontario, Canada, August 6-9, 2002. Proceedings

24 juillet 2002
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Description

Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9783540440116
Étape de vie: null

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