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Aperçu gratuit du livre Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Joseph Goldstein , Dale E. Newbury , David C. Joy
31 mai 2013
175,50 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
689
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 10" H x 7" W x 1" L
ISBN: 9781461349693
Étape de vie: null

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  • bvseo_sdk, dw_cartridge, 18.2.0, p_sdk_3.2.0
  • CLOUD, getReviews, 6ms
  • reviews, product
  • bvseo-msg: Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.'; Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.';

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