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Aperçu gratuit du livre Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield

Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield

Mohamed Abu Rahma , Mohab Anis
27 septembre 2012
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
172
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9781461417484
Étape de vie: null

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