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  • Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications
Aperçu gratuit du livre Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

9 mars 2022
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Publié par: Wiley
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ISBN: 9783527833955
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  • bvseo_sdk, dw_cartridge, 18.2.0, p_sdk_3.2.0
  • CLOUD, getReviews, 5ms
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  • bvseo-msg: Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.'; Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.';

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Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications CE717577-5A17-4B30-8670-2D1AF48ABDC8
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https://dynamic.indigoimages.ca/v1/books/books/3527349510/1.jpg
138.95
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https://dynamic.indigoimages.ca/v1/https://cdn.kobo.com/book-images/61a50171-9484-4a50-8169-6b432027d457/300/300/False/image.jpg
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