Acheter maintenant et ramasser en magasin

  • Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Aperçu gratuit du livre Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach

Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach

10 juillet 2020
75,99 $
Prix en ligne. Les prix et les offres peuvent différer en magasin.
.
Commande minimum de  1 articles
Vente ferme. Aucun retour ou échange.
La livraison de cet article sera effectuée sur rendez-vous par notre transporteur partenaire.

M’expédier cet article

Vérification des stocks…

Acheter maintenant et ramasser en magasin

Vérification des stocks…

Trouver en magasin

Vérification des stocks…


Obtenez null points et profitez d’un rabais additionnel avec plum+.  .

Description

Publié par: CRC Press
Dimensions à l’expédition: null
ISBN: 9780429605598
Étape de vie: null

Cotes et évaluations

  • bvseo_sdk, dw_cartridge, 18.2.0, p_sdk_3.2.0
  • CLOUD, getReviews, 5ms
  • reviews, product
  • bvseo-msg: Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.'; Unsuccessful GET. status = 'ERROR', msg = 'Not Found.';

Évaluation éditoriale


Auteur


Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 6783AA67-8440-4A3E-A2C3-BEDE0AB6CF74
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
https://dynamic.indigoimages.ca/v1/books/books/0367400979/1.jpg
81.5
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
https://dynamic.indigoimages.ca/v1/https://cdn.kobo.com/book-images/ba43be66-6861-4471-9e2a-5528b126f5b8/300/300/False/image.jpg
75.99