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  • Characterization Of Stress In Gan-on-sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-raman Spectroscopy
Aperçu gratuit du livre Characterization Of Stress In Gan-on-sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-raman Spectroscopy

Characterization Of Stress In Gan-on-sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-raman Spectroscopy

Francisco E Parada
29 novembre 2012
60,51 $
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
100
Publié par: Creative Media Partners, LLC
Dimensions à l’expédition: 10" H x 7" W x 1" L
ISBN: 9781288368518
Étape de vie: null

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