• Applications And Metrology At Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves And Uncertainties
Aperçu gratuit du livre Applications And Metrology At Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves And Uncertainties

Applications And Metrology At Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves And Uncertainties

Pierre-Richard Dahoo , Philippe Pougnet , Abdelkhalak El Hami
16 mars 2021
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Description

Convient aux personnes de
Langue
anglais
Pages
256
Publié par: Wiley
Dimensions à l’expédition: 0" H x 0" W x 0" L
ISBN: 9781786306401
Étape de vie: null

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