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Publié par: Springer US
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ISBN: 9781441909381
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
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EB4218E4-2087-4645-9C9B-EE6DAAF74E44
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https://dynamic.indigoimages.ca/v1/books/books/1489983147/1.jpg
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https://dynamic.indigoimages.ca/v1/https://cdn.kobo.com/book-images/25cc347f-1d2d-4953-ba38-f4ea818c59a7/300/300/False/image.jpg
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