Aperçu gratuit du livre Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
160,95 $
Prix en ligne. Les prix et les offres peuvent différer en magasin.
M’expédier cet article
Vérification des stocks…
Acheter maintenant et ramasser en magasin
Vérification des stocks…
Trouver en magasin
Vérification des stocks…
Obtenez 805 points et profitez d’un rabais additionnel avec plum+. En savoir plus.
Description
Publié par: Springer/Sci-Tech/Trade
Dimensions à l’expédition: 9" H x 6" W x 1" L
ISBN: 9781441909374
Étape de vie: null
Cotes et évaluations
Évaluation éditoriale
D’autres ont aussi acheté
Les livres numériques d’Indigo sont offerts à Kobo.com.
Il suffit de vous connecter ou de créer un compte Kobo gratuit pour démarrer. Lisez des livres numériques sur n’importe quelle liseuse Kobo ou avec l’application Kobo gratuite.
Pourquoi Kobo?
Avec plus de 6 millions de livres numériques figurant parmi les meilleurs au monde, Kobo vous propose un tout nouveau monde de lecture. Emportez vos lectures et accumulez des points à chaque achat.
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
/fr-ca/advanced-test-methods-for-srams-effective-solutions-for-dynamic-fault-detection-in-nanoscaled-technologies/EB4218E4-2087-4645-9C9B-EE6DAAF74E44.html
EB4218E4-2087-4645-9C9B-EE6DAAF74E44
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
https://dynamic.indigoimages.ca/v1/books/books/1489983147/1.jpg
155.95
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
https://dynamic.indigoimages.ca/v1/https://cdn.kobo.com/book-images/25cc347f-1d2d-4953-ba38-f4ea818c59a7/300/300/False/image.jpg
135.87
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
https://dynamic.indigoimages.ca/v1/books/books/1441909370/1.jpg
160.95